测量与普通二极管的测量相同,并且反向电阻是无限的。20A/100V,可以在普通电脑ATX电源12V整流器中找到。
它可以在LCD电源的12V整流端子上更换。虽然肖特基二极管具有良好的性能,但很少见到民用产品的耐压超过100V。高压,低压二极管价格昂贵,可用于某些专用设备。
SBD不是通过使P型半导体与N型半导体接触而形成PN结的原理来制造的,而是通过由金属-半导体接触形成的金属-半导体结原理来制造的。
因此,SBD也被称为金属-半导体(接触)二极管或表面势垒二极管,其是热载流二极管。
肖特基二极管是金属半导体器件,其中贵金属(金,银,铝,铂等)A是正电极,N型半导体B是负电极,并且在其上形成阻挡层。
其接触面具有整流性能。
由于在N型半导体中存在大量电子,并且贵金属中仅存在非常少量的自由电子,因此电子从高浓度B扩散到低浓度A.
显然,金属A中没有空隙,并且空穴没有从A到B的扩散运动。随着电子继续从B扩散到A,B表面上的电子浓度逐渐降低,表面电中性被破坏,从而形成B→A的潜在障碍。
然而,在电场的作用下,A中的电子也从A→B产生漂移运动,从而削弱了由扩散运动形成的电场。当建立一定宽度的空间电荷区时,由电场引起的电子漂移和由浓度差引起的电子扩散运动达到相对平衡,并形成肖特基势垒。
肖特基二极管怎么测量好坏视频
目前使用率最高的万用表是数字万用表,这里以数字万用表检测二极管和三极管为例。
一、检测二极管(使用二极管档)红笔接正极,黑笔接负极;可显示二极管的正向压降。
正常应显示;硅管0.500~0.700,锗管0.150~0.300。
肖特基二极管的压降是0.2V左右,普通硅整流管(1N4000、1N5400系列等)约为0.7V,发光二极管约为1.8~2.3V。
调换表笔,显示屏显示“1”则为正常,因为二极管的反向电阻很大,否则此管已被击穿。
正测、反测均为0或者为1,表明此管损坏。
二、检测三极管(使用二极管档)根据上述检测二极管的方法,来检测三极管。
首先确定集电极C和发射极E;用表测出两个PN结的正向压降,两次读数均为0.7V左右;压降小的为集电极C,压降大的为发射极E,两次测量公共极(B极)用的是红笔,此管是NPN型;用的是黑笔,此管是PNP型。
以上检测方法在路测试时应注意:PN结两端如并接有小于700欧姆电阻,显示数值将会偏小,这时不要盲目认为晶体管损坏,可以将电阻的一端焊开再测,也可将此管焊下测量。
普通三极管CE间阻值应为无穷大,对含有内阻的晶体管,CE间有一定的阻值。
三、常年使用经验,快速判断发射结和集电结。
使用二极管档测量三极管时,以硅三极管为例,测量BE结或者BC结显示的是导通电压,测量数值稍大的为BE发射结,例如,两个导通电压分别是0.708V和0.710V,则导通电压为0.710V时的一对是发射结,另一对是集电结。
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